鋁殼電阻制造中的常見(jiàn)問(wèn)題及解決方法

鋁殼電阻制造中的常見(jiàn)問(wèn)題及解決方法：

1 電阻值偏差

電阻值偏差是鋁殼電阻制造中的常見(jiàn)問(wèn)題，通常由電阻合金絲的材質(zhì)不均勻或繞線工藝控制不當(dāng)引起。解決方法包括優(yōu)化電阻合金絲的材質(zhì)和繞線工藝參數(shù)。

2 焊接點(diǎn)失效

焊接點(diǎn)失效是鋁殼電阻制造中的另一個(gè)常見(jiàn)問(wèn)題，通常由焊接溫度、焊接時(shí)間或焊接壓力控制不當(dāng)引起。解決方法包括優(yōu)化焊接工藝參數(shù)和加強(qiáng)焊接過(guò)程的質(zhì)量控制。

3 外殼散熱不良

外殼散熱不良是鋁殼電阻制造中的常見(jiàn)問(wèn)題，通常由外殼表面處理工藝不當(dāng)或封裝材料導(dǎo)熱性差引起。解決方法包括優(yōu)化外殼表面處理工藝和選擇導(dǎo)熱性良好的封裝材料。

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